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IC封裝PCT老化試驗(yàn)箱（詳細(xì)介紹：適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)

芯片高溫高濕高壓試驗(yàn)箱用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱用途：使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。

hast非飽和試驗(yàn)箱圓型門設(shè)計(jì)，能夠密封溫度與壓力安全鎖定控制，鎖牢固才能啟動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，箱內(nèi)壓力超壓時(shí)具有自動(dòng)泄壓或手動(dòng)泄壓。計(jì)時(shí)安裝，LED數(shù)字型計(jì)時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度達(dá)到后計(jì)時(shí)器確保試驗(yàn)*，計(jì)時(shí)從表格1驅(qū)動(dòng)。

歐可pct高溫加速老化試驗(yàn)箱可測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

pct加速試驗(yàn)試驗(yàn)箱供電系統(tǒng)： 1、電源：?jiǎn)蜗?80V50Hz3KW 2、試驗(yàn)用水：純水 3、配有出廠合格證、保修卡、使用說(shuō)明書(shū)各一份。